密度计

零件编号： EO2-XR-ULZW // 产品编号： 1 045042 设备/更多信息： 规格： 光谱技术：光谱范围：380-730 nm 物理测量间隔：3.5 nm 光学分辨率：10 nm 光谱分辨率： 380 nm ...730 nm，10 nm 间隔 扫描模式下的测量频率：200 次测量/秒 反射测量：光谱反射（无量纲） 发射测量：光谱辐射率（兆瓦/纳米/平方米/超微米）� ��亮度（暗中/平方米） 环境光测量：光谱辐照度 （mW/nm/m2），亮度（lux）漫射光测量头，带余弦校�