| 描述: |
X射线光谱仪 Helmut Fischer Fischerscope XDLM 237
二手机
费舍尔镜 XDLM 237 X 射线/X E561330 射线荧光光谱仪
X射线光谱仪，用于无损测定所有常见金属涂层的层厚
度，以及使用X射线荧光进行的其他材料分析。如果您
对以前的应用程序有任何疑问，请联系我们。
该设备功能齐全，将在交付前重置为出厂设置。所有
护均由制造商的服务团队根据制造商的规格进行。
何维修和验收也由制造商委托。
它是一种具有适当型式认证的完全保护装置。根据《
射防护条例》的要求进行的定期检查一直由经批准
专家进行。
seller offer No. resale 162444765
|